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透过率测试仪

透过率测试仪

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所属分类:透过率测试仪器

更新日期:2021-02-23

简要描述:透过率测试$nVS-Micro透过率测试仪简介:$n基于普通透过率测量仪的测试原理,增加显微光路和成像CCD对测试区域进行准确定位,用小尺寸光斑(0.1mm)测试样品微小区域的相/透射率。对比传统目镜对焦,其采用数字相机视频对焦更准确,测试速度更快。可调光斑孔径大小达到了以前没有的小尺寸,更好的适应了市场上越来越精细的样品测试。专门用于手机盖板IR孔、菜单键、返回键等微小区域的透过率检测。

详细说明:

透过率测试仪

优点:

l    仪器精密小巧,携带方便。

l   测试速度极快,一秒出结果,实现产品全检。

l  极小样品的透过率检测。

l  优异的波长重复性达0.1纳米。

l  高精度的光度测定。

l  小化杂散光。

透过率测试仪

软件特点:

l 智能化软件操作:可自定义测量方式和角度,实时显示测量样品关注波长位置的透/反射率数据,自动调整显示坐标范围,高效地进行批量样品检测及谱图对比分析。

      谱图管理:可同时记录多达20个样品谱图,批量保存测量结果,记录谱图测试积分时间,能对谱图进行更名、定义颜色、选择是否显示、加粗等操作,很大程度地方便了谱图的管理和分析。

l       自定义测量方案:用户可以自行定义测量的方案,同时设置判定标准,使检测更快速,结果更准确。

l       谱图数据处理功能:备有丰富的光学元件数据库,可根据数据库已存标准数据对比分析结果,用户可自行对数据库进行添加、修改和删除,还可将测量数据导入Excel有利于进一步对谱图进行分析和研究。

l       CIE颜色测量功能:可以计算样品各种CIE颜色参数, x,y,L,a,b,饱和度,主波长等。

l       数据报告打印功能:可快速批量打印样品测量数据及谱图,自定义测量报告出具单位名称。

技术参数:

型号

OVS-Micro(I型)

OVS-Micro(II型)

测量系统

单光束

单光束

探测器

Sony线形CCD 阵列

Hamamatsu背照式2D-CCD

检出限

0.1%

0.01%

相对检测误差

﹤0.6%(410-900nm)

﹤0.4%(410-100nm)

检测范围

380-1000nm

360-1100nm

波长重复率

1nm

1nm

信噪比(全信号)

250:1

450:1

样品测试平台

X,Y轴可调

光源

卤素钨灯

孔径大小

0.1mm/0.3mm/0.5mm/0.8mm/1.0mm可选

样品大小

≥ 0.5mm

测量时间

﹤1s

对焦方式

数字相机视频对焦

物镜

5X

电源供应器

5V/6W,可调节亮度,灯泡寿命5000小时

操作系统/接口

Windows XP, Windows Vista/ USB2.0

体积/重量

30cm*29cm*35cm/8.5kg

 



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