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IR孔透过率测试仪

IR孔透过率测试仪

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所属分类:透过率测试仪器

更新日期:2021-02-23

简要描述:IR孔透过率测试仪是一套全波长的0度角透过率检测仪,能快速准确地测量各类平面光学元件的透光率,可用于实时在线检测,实现产品全检。适用于棱镜、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面光学元件的检测。

详细说明:

IR孔透过率测试仪

DMS透过率测试仪
 简介
    IR孔透过率测试仪是一套全波长的0度角透过率检测仪,能快速准确地测量各类平面光学元件的透光率,可用于实时在线检测,实现产品全检。适用于棱镜、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面光学元件的检测。
 IR孔透过率测试仪
特点
     智能化软件操作:可自定义测量方式和角度,实时显示测量样品关注波长位置的透/反射率数据,自动调整显示坐标范围,高效地进行批量样品检测及谱图对比分析。
     谱图管理:可同时记录多达20个样品谱图,批量保存测量结果,记录谱图测试积分时间,能对谱图进行更名、定义颜色、选择是否显示、加粗等操作,尽可能地方便了谱图的管理和分析。
     自定义测量方案:用户可以自行定义测量的方案,同时设置判定标准,使检测更快速,结果更准确。
     谱图数据处理功能:备有丰富的光学元件数据库,可根据数据库已存标准数据对比分析结果,用户可自行对数据库进行添加、修改和删除,还可将测量数据导入Excel有利于进一步对谱图进行分析和研究。
      CIE颜色测量功能:可以计算样品各种CIE颜色参数,x,y,L,a,b,饱和度,主波长等。
      数据报告打印功能:可快速批量打印样品测量数据及谱图,自定义测量报告出具单位名称。
 
技术参数
 
         型号DMS(1型)DMS(2型)
 
        探测器Sony线形CCD阵列Hamamatsu背照式2D-CCD
 
        检测范围380-1000nm360-1100nm
 
        波长分辨率1nm1nm
 
        信噪比(全信号)250:11000:1
 
        相对检测误差﹤0。5%(400-800nm)﹤0。2%(400-800nm)
 
        单次测量时间﹤1s
 
        样品尺寸≥Φ1mm
 
       操作系统/接口WindowsXP,WindowsVista/USB2。0
 
       电源/功率220V-50HZ/6W
 



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